菲希爾X射線FISCHERSCOPE X-RAY XDL230的詳細資料：

菲希爾X射線FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

?? 突破性檢測技術來襲！FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 測厚儀，以微米級精度重新定義工業(yè)質檢標準！?

? 閃電測量
? 多層鍍膜無損分析
? 航空航天/電子/汽車全領域適配

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希爾X射線鍍層測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。FISCHERSCOPE X-RAY XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經常校準儀器。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了FISCHER基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。XDL 230特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監(jiān)控。